Mar 01, 2006

聯華電子針對 90 奈米系統單晶片設計公司推出整合式 DFM 解決方案

聯華電子今日 (1日) 宣佈針對發展 90 奈米系統單晶片的客戶,推出完整的可製造性導向設計 (DFM) 及良率最佳化服務。這項套件將 DFM 的各項元件整合至標準元件庫、積體電路模擬模式 (SPICE models) 以及設計流程中,從設計到生產的階段,提供使用者良率強化的知識。

聯華電子的 DFM Value Service,是 DFM 套件中的關鍵元素。DFM Value Service 內含完備的診斷程式設計平台,使我們能在客戶晶片上快速的測試、偵查並標出實體故障的區域,晶圓廠和客戶間無需經歷大量且冗長的資訊交換程序。經由這個方式,工程團隊在診斷程序上可以花較少的精力,因此可以快速提昇良率、加速產品上市時間、並且降低生產成本。

聯華電子市場行銷部副總鍾立朝表示,“隨著 90 奈米及以下製程設計日趨複雜,對於今日的系統單晶片設計公司來說,要達成上市時程的目標變得愈加困難。聯華電子的製造團隊與客戶的設計團隊緊密合作,以實現系統單晶片設計之快速導入與高穩良率的共同目標。這表示客戶能快速地以更佳的成本效益,將他們的系統單晶片設計完成進而上市。”

聯華電子的 DFM 套件包含以下項目:

DFM Counselor-在整個設計過程中引導使用者的綜合文件與模式。它配備的設計支援手冊,包含下列項目:

  • DFM 推薦規則、指導方針以及光學鄰近效應修正 (OPC) 指導方針。
  • 包含 Length of Diffusion (LOD) 效果與蒙地卡羅 (Monte Carlo) 的積體電路模擬模式 (SPICE models)。
  • 包括 Wire Edge Effects (WEE) 的 Intercap 模式。
  • DFM 應用文件。

 

DFM Counselor Tools-為了成功地執行 DFM,DFM 套件配備有完備的軟體程式以及技術檔案,支援所有主要的電子設計自動化工具:

  • 兩個以上的內連線栓塞與限制性栓塞堆疊的 DFM 程式。
  • 用以檢驗 DFM 推薦規則的 DFM 設計規則檢驗程式。
  • 支援 WEE,LOD 與 WPE 效應的技術檔案,包括含 DFM 的電路元件版圖的參數萃取 (LPE) 及版圖與電路的對應檢查 (LVS)。

 

DFM Value Service-為了提供最高的價值予客戶,聯華電子為客戶提供完整的 DFM 服務:

  • 設計定案後的光學鄰近效應修正與光學規則檢驗 (LRC)。
  • 無作用金屬填充。
  • 金屬導線溝槽化。
  • 聯華電子專有的診斷程式設計 (Design for Diagnostics) 良率提昇服務,使客戶的工程團隊得以將花在診斷程序上的時間減到最少。

 

DFM Premium Service-聯華電子提供可由客戶選用的 DFM 服務,以供那些需要在設計定案前檢查 OPC / LRC 結果的客戶選用。

有意使用聯華電子整合式 DFM 解決方案的客戶可以聯絡其業務經理,或連結至聯華電子網站 (www.umc.com) 的 MyUMC 完整線上供應鏈客戶資訊入口。

 

聯華電子 新聞聯絡

顏勝德 (Sandy Yen)

+886-2-2700-6999 ext. 6968

[email protected]

 
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