儘早將您的原型設計通過矽驗證，是讓您的產品搶先競爭者上市的關鍵。然而，針對尖端製程技術進行晶圓測試的費用可能十分高昂。有鑑於此，聯電提供了矽梭方案，使客戶得以採用具成本效益方法，在聯電製程上驗證設計、原型與 IP。矽梭方案係為在同一片測試晶圓上區隔出不同的晶片區塊，讓不同客戶可以共同分擔整個光罩的成本，藉此降低每位客戶所需負擔的單位成本。
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22nm |
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Apr, Jul, Oct, Dec |
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28nm |
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Jan, Mar, May, Jun, Aug, Oct, Nov |
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40nm |
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Mar, Apr, Aug, Jul, Sep, Dec |
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55/65nm |
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Jan, Mar, Jun, Sep, Nov |
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0.11um (AL) |
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Jun, Jan, Mar, Sep, Dec |
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0.11 / 0.13 / 0.15 / 0.162um |
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Apr, Oct |
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0.18um |
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Mar, Sep |
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0.25um / 0.3um / 0.35um |
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Jun |
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| 55/65nm | ||||||||||||
| 0.11um (AL) | ||||||||||||
| 0.11 / 0.13 / 0.15 / 0.162um | ||||||||||||
| 0.18um | ||||||||||||
| 0.25um / 0.3um / 0.35um |
備註：
1.
記號者代表若矽晶方銷售達到最基礎數量，矽梭即會定期運轉。除此以外，聯電將會視情況調整矽梭運轉的時間表。
2.
請聯絡聯電業務代表，以獲得詳細的矽梭運轉訊息。
